該研究項目得到了國家自然科學(xué)基金、中國科學(xué)院對外合作重點項目的資助。
通過超短脈沖激光聚焦樣品表面形成等離子體,進而對等離子體發(fā)射光譜進行分析以確定樣品的物質(zhì)成分及含量。
超短脈沖激光聚焦后能量密度較高,可以將任何物態(tài)的樣品激發(fā)形成等離子體,LIBS技術(shù)(原則上)可以分析任何物態(tài)的樣品,僅受到激光的功率以及攝譜儀
因此,LIBS可以分析大多數(shù)的元素。如果要分析的材料的成分是已知的,LIBS可用于評估每個構(gòu)成元素的相對豐度,或監(jiān)測雜質(zhì)的存在。在實踐中,檢測極限是:a)等離子體激發(fā)溫度的函數(shù),b)光收集窗口,以及c)所觀查的過渡譜線的強度。LIBS利用光學(xué)發(fā)射光譜,并且是該程度非常類似于電弧/火花發(fā)射光譜。
LIBS在技術(shù)上是非常相似的一些其它基于激光的分析技術(shù),共享許多相同的硬件。這些技術(shù)是拉曼光譜學(xué)的振動光譜技術(shù),激光誘導(dǎo)熒光(LIF)的熒光光譜技術(shù)。實際上,現(xiàn)在設(shè)備已經(jīng)被制造成在單個儀器中結(jié)合這些技術(shù),允許樣品原子的,分子的和結(jié)構(gòu)的特征研究,以給予物理性質(zhì)的一個更深入的了解。