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電子探針EPMA-1720 Series
高靈敏度 · 高精度 · 高分辨率 「簡(jiǎn)單•易懂的操作」
從軟件到硬件凝結(jié)了最新技術(shù)，鑄就了新一代EPMA。島津EPMA在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎(chǔ)上，又新增了簡(jiǎn)單·易懂的操作性能，將電子探針功能發(fā)揮至極致。既可滿足初學(xué)者簡(jiǎn)易操作的需求，又能適合專家級(jí)的科研分析。
完美設(shè)計(jì)的X射線分光器可以實(shí)現(xiàn)高靈敏度·高精度分析
X射線取出角決定分析性能，52.5°高取出角更勝一籌
圖為小孔穴中異物的分析實(shí)例。左下圖為鐵（Fe）、右下圖為鈦（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，對(duì)表面凹凸明顯的樣品也能進(jìn)行高精度分析。
從SEM觀察到開(kāi)始分析，簡(jiǎn)便易行，大幅度提高工作效率。
同一顯示器上同時(shí)顯示高靈敏度的光學(xué)圖像和SEM圖像
在同一個(gè)顯示器上觀察光學(xué)圖像和SEM圖像。
SEM圖像和光學(xué)圖像在同一顯示器上，減少視線的移動(dòng)。
通過(guò)高靈敏度的CCD可以觀察很暗的樣品。
只需單擊一下即可開(kāi)始SEM圖像觀察。
束流變換更加簡(jiǎn)單·快速·高精度，且保持聚焦。
※外觀及規(guī)格的變動(dòng)，恕不另行通知。