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探知未來
原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。
新開發(fā)的可快速響應(yīng)的HT掃描器加之軟件與控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)的優(yōu)化，成功實(shí)現(xiàn)掃描速度比傳統(tǒng)設(shè)備快5倍以上。
獨(dú)具匠心的探針更換夾具，讓小心翼翼的探針更換操作變得簡捷輕松。
樣品交換時(shí)也可保持激光穩(wěn)定照射懸臂。照射穩(wěn)定性優(yōu)異，分析時(shí)間也大幅度縮短。
可從不同角度放大拉伸圖像進(jìn)行確認(rèn)。鼠標(biāo)操作簡單，更可進(jìn)行3D斷面形狀分析。
按照操作指南指導(dǎo)操作順序，使用導(dǎo)航功能直接鎖定觀察位置，實(shí)現(xiàn)了SPM的快速簡便的觀察
具備豐富的測(cè)定模式和優(yōu)異的擴(kuò)展性，可對(duì)不同硬度、不同導(dǎo)電性能等各式樣品進(jìn)行觀察分析。
控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM
可以控制樣品和周邊環(huán)境，在可控氣氛下進(jìn)行樣品處理，并直接進(jìn)行SPM觀察。
選配系統(tǒng)具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元、樣品加熱單元、吹起單元。
粒度分析軟件
從圖像數(shù)據(jù)中選取復(fù)數(shù)顆粒，對(duì)每一顆粒進(jìn)行特征量的計(jì)算，并進(jìn)行分析、顯示，以及及進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。
微小部熱分析試驗(yàn)儀器復(fù)合型SPM系統(tǒng) SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產(chǎn)品）可以進(jìn)行樣品表面的三維形貌觀察和點(diǎn)的熱分析。